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Détails sur le produit:
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| Dispositif d'affichage: | PC | Commutateur d'unité: | G, kg, n, lb |
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| Usage: | Testeur de résistance à la tension de tension | Lecture de la force: | KGF, IBF, N, KN, T ETC. |
| Poignée: | Grup de traction, prise de force lacrymale | ||
| Mettre en évidence: | Machine de test PID pour modules PV,Testeur de panneaux solaires HD-E900,Équipement de test de dégradation de modules PV |
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Les tests de dégradation induite potentielle (PID) évaluent la capacité des modules photovoltaïques à résister à la détérioration induite par le potentiel en simulant des conditions de champ électrique et de chaleur humide sévères.
| Article | Spécification |
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| Alimentation CC régulée | 12 canaux (surveillance et contrôle indépendants) Chaque canal peut contrôler indépendamment la polarité de la tension |
| Plage de tension | -2000V ~ 2000V |
| Résolution de la tension | 1V |
| Stabilité de la tension | Pour une sortie continue de 1000V, 1500V et 2000V, la fluctuation de la tension est ≤2% en 500 heures |
| Méthode de connexion | Cadre du module mis à la terre, connecteur court-circuité puis connecté à la borne haute tension ; pour les tests de tension négative et la récupération de tension positive, seule la bascule de l'interrupteur est nécessaire, aucun changement de méthode de connexion requis |
| Méthode d'application de la tension | 20 canaux d'alimentation fonctionnent indépendamment, capables de délivrer différentes polarités et tensions |
| Précision de la tension | ±3% (référence CNAS-CL01-A021:2018) |
| Tolérance de tension | 0,5% (référence IEC 62804-1-1:2020) |
| Plage de mesure du courant | 0~1mA Résolution : 0,01μA (comme spécifié dans la norme CEI 62804-1-1:2020) |
| Intervalle d'acquisition | ≤5min (réglable par logiciel) |
| Fonctions de protection de sécurité | Alarme de surintensité, alarme de surtension, alarme de surchauffe, interface de communication avec la chambre d'essai environnementale |
| Alimentation | Monophasé, 220V, 50Hz |
| Articles | Description |
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| Norme d'essai | CEI 61215-2: 2021 MQT 21 Test de dégradation induite potentielle CEI 62804-1-1:2020“Modules photovoltaïques (PV) - Méthodes d'essai pour la détection de la dégradation induite potentielle Partie 1-1 Silicium cristallin – Délamination” CEI 63209:2019 Essais de contrainte prolongés des modules photovoltaïques |
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